Schoop U., Thieme C., Li X., Zhang W., Kodenkandath T., Malozemoff A.P., Nguyen N., Siegal E., Buczek D., Lynch J., Scudiere J., Goyal A., Paranthaman M., Verebelyi D.T., Jowett M., Rupich M.W.(mrupich@amsuper.com), Thompson E., Wang J.-., Li Q., Annavarapu S., Cui S., Fritzemeier L., Aldrich B., Craven C., Niu F., Schwall R.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, substrate Ni-W, MOD process, critical current, fabrication, critical caracteristics
Iijima Y., Nakamura Y., Saitoh T., Teranishi R., Tokunaga Y., Fuji H., Izumi T., Shiohara Y., Honjo T.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, MOD process, microstructure, critical current density, fabrication, critical caracteristics
Iijima Y., Shiohara Y., Aoki Y., Hasegawa T., Watanabe T., Maeda T., Honjo T., Yamada Y., Saito T., Hirabayashi I., Takahashi Y.*(k920112@sntl.swcc.co.jp))
Osamura K., Matsumoto K., Takechi A.(takechi@sd6.so-net.ne.jp)
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, MOD process, buffer layers, substrate SrTiO3, PLD process, critical current density, fabrication, critical caracteristics
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.